惠普 (HP)4155A半导体分析仪

HP（Agilent/HP） 4155A是新一代精密半导体参数分析仪。它集成了数字扫描参数分析仪、可靠性测试仪、强大的故障分析工具和自动来料检验站这些设备的功能。这个新系列经过专门设计，提供了前所未有的精度和功能，使用过程也变得更加灵活简便。 特征： I：1 fA 至 100 mA（20 fA 偏移精度） V：1 μ V 至 100 V 全自动 I-V 扫描测量，具有 DC 或脉冲模式，最多可扩展至 6 个 SMU 同步应力/测量功能 两个高压脉冲发生器装置 （+/- 40 V） 时域测量：60 微秒 - 可变间隔，最多 10,001 个点 易于使用的旋钮扫描，类似于曲线跟踪器 自动分析功能 内置 Agilent / HP Instrument BASIC 触发 I/Q 功能